光譜輻射計主要用于 LED/SSL 測量技術(shù)。
光譜輻射計的校準(zhǔn)必須可追溯至國家標(biāo)準(zhǔn),例如 PTB 或 NIST。校準(zhǔn)還必須在合格且經(jīng)驗豐富的校準(zhǔn)實驗室中進行,因為校準(zhǔn)質(zhì)量對于測量設(shè)備的可用性、再現(xiàn)性和可比性至關(guān)重要。
注:光學(xué)測量儀器制造商Gigahertz-Optik 擁有自己的經(jīng)認(rèn)可(DAkkS:DK-15047-01-00)的光譜輻照度和光譜響應(yīng)度校準(zhǔn)實驗室,以確保其產(chǎn)品獲得最佳的校準(zhǔn)質(zhì)量和質(zhì)量保證。
除了校準(zhǔn)不確定度之外,測量不確定度也很重要,因為要測量的光源通常與設(shè)備校準(zhǔn)中使用的光源不同。還必須考慮測量位置的不同因素(環(huán)境條件)(參見 CIE198 和 CIE S025)。因此,必須進行額外的測量不確定度測試。對于用戶來說,這意味著需要對光譜輻射計進行全面的表征,并且這些參數(shù)必須從制造商處獲得。
測量結(jié)果的再現(xiàn)性和機械適應(yīng)的再現(xiàn)性,例如積分球或發(fā)光強度適配器,都是必要的。從機械角度來說,這些適配器必須經(jīng)過深思熟慮且結(jié)構(gòu)堅固。在這里,光纖更容易受到攻擊,因此與更穩(wěn)定、封閉的系統(tǒng)相比,要求更高一些。
小于 5 nm 或根據(jù) CIE214 進行帶寬校正(例如,帶帶寬校正的 10 nm)。適用于實驗室和應(yīng)用測量。小于 3 nm 的光學(xué)帶寬是工業(yè)應(yīng)用(例如 LED 分級)的理想選擇,可提高顏色測量的精度。光學(xué)帶寬會扭曲光譜,例如當(dāng)線條或峰值從 LED 擴散時(請參閱“光測量基礎(chǔ)知識”)。
對于應(yīng)用測量,該值應(yīng)優(yōu)于 ± 0.5 nm,以保證顏色坐標(biāo)測量的足夠精度。對于高精度分檔應(yīng)用,波長精度應(yīng)優(yōu)于±0.2 nm。這種精度在色坐標(biāo)測量中極其重要,因此也是測量不確定度中最重要的因素之一。除了精度之外,波長校準(zhǔn)的穩(wěn)定性也是結(jié)果穩(wěn)定的關(guān)鍵。
雜散光抑制(參見下面的注釋)對于白光 LED 的測量尤其重要。例如,雜散光抑制不充分可能會導(dǎo)致色位偏移。為了獲得足夠精確的測量,需要不低于 10E-3 的雜散光抑制。高端光譜輻射計(例如,采用 ZEMAX 模擬的光束路徑等)憑借其硬件特性可以輕松滿足這一要求。根據(jù)(Zong等人, 2006)或(Nevas等人, 2012)的雜散光矩陣計算,原則上可以更好地抑制雜散光。除了波長精度之外,足夠的雜散光抑制對于精確的顏色位置測量也至關(guān)重要。
注:雜散光抑制是指避免與所用波長不同的雜散光/偽光。例如,光譜儀中白色 LED 發(fā)出的信號會產(chǎn)生雜散光,該雜散光可被光譜范圍低于 400 nm 的探測器像素檢測到。然后,該信號會在測量數(shù)據(jù)中重現(xiàn),盡管從物理上來說,它并不是直接由 LED 產(chǎn)生的,而是由于光譜輻射計的測量誤差造成的。這種測量誤差可能會導(dǎo)致色位偏移。雜散光的主要問題是它高度依賴于被測光源及其光譜分布。因此,應(yīng)始終努力實現(xiàn)最佳的雜散光抑制,以避免或減少這種不確定性。
特別是在工業(yè)應(yīng)用中,在計時生產(chǎn)過程中,測量設(shè)備通常不是控制設(shè)備。因此,應(yīng)集成觸發(fā)選項,例如允許電流源(例如 Keithley 2400/2600 或 LPS20)觸發(fā)測量。這里,精確的同步要求觸發(fā)輸入端口(即向測量對象提供電流)和測量開始(用光譜輻射計開始測量)之間的抖動盡可能最小。
CCD 和 CMOS 探測器的線性度不足以滿足所有驅(qū)動級別和積分時間下精確光譜輻射測量的需求。因此,高質(zhì)量的測量設(shè)備配備了完全線性化的檢測器。
注: Gigahertz-Optik 的BTS 技術(shù) 允許集成額外的探測器作為參考或校正因子,從而保證在大動態(tài)范圍內(nèi)的高線性度。
對于寬動態(tài)范圍,ADC 應(yīng)具有適合特定應(yīng)用的適當(dāng)分辨率(例如 LED 分級中的 16 位)。此外,它應(yīng)該允許可調(diào)節(jié)的積分時間。使用 OD 濾光片也可以增強此測量范圍。主要通過積分時間進行動態(tài)控制有助于避免在使用過程中耗時地更換 OD 濾光片,從而有助于避免通過 OD 濾光片產(chǎn)生進一步的校準(zhǔn)不確定性(光譜路徑、老化)。必須考慮 OD 濾光片對測量不確定度的影響,例如通過 OD 濾光片自身的校準(zhǔn)條目。
注:BTS2048-VL 的積分范圍為 2 μs 至 60 s。僅通過積分時間,就動態(tài)而言,這些值就超過了 7 個數(shù)量級。
測量不確定度必須考慮到測量系統(tǒng)的老化,并且對于高質(zhì)量的測量系統(tǒng)來說,老化應(yīng)該非常低。這也有助于盡可能延長重新校準(zhǔn)周期。就波長精度而言,長期穩(wěn)定性尤為重要。如果不能確保這一點,可能會導(dǎo)致顏色測量(顏色位置、主波長等)發(fā)生較大變化。
注意:在光通量測量中,積分球是輸入光學(xué)器件的一部分,因此也是測量系統(tǒng)的一部分。因此,還必須考慮其老化。BTS技術(shù)是一種雙傳感器技術(shù),它具有額外的優(yōu)勢,因為額外的參考傳感器還可以自動檢測可能的移位。
溫度校正對于確保正確的絕對測量值(例如輻照度)以及補償波長誤差非常重要,尤其是在室外測量中
注意:在這里,與傳統(tǒng)光譜輻射計相比, BTS 技術(shù)也非常有優(yōu)勢,因為它允許對測量數(shù)據(jù)進行在線溫度校正。
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