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德國原裝進(jìn)口 Gigahertz-Optik BTS2048-UV-2 用于紫外至藍(lán)色光譜范圍測量的高質(zhì)量緊湊型光譜輻射計/光譜儀:
?高雜散光減少;
?超快速接口和電子快門;
?BTS2048-UV 具有更大的光譜范圍,具有高光學(xué)分辨率;
?適合各種測量任務(wù)(UV LED、氘燈、鎢絲燈到太陽輻射);
?高雜散光減少有助于將精確校準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為精確測量;
?入口光學(xué)器件:10 mm ? 余弦擴散器 f2 ≤ 3%;
?光譜范圍/nm:(200 - 550) nm;
?光帶寬:1.0 nm;
?測量范圍-寬帶探測器:(5E-3 - 2E5) W/m2;
?測量范圍 - 光譜傳感器:(2E-5 - 1.5E4) W/(m2nm) @325nm;
?評論:非常好的減少雜散光。與 BTS2048-UV 相比,具有擴展的波長范圍,適用于所有類型的 UV 測量,并且光學(xué)帶寬略有增加。
傳統(tǒng)CCD探測器的光譜響應(yīng)度通常在200 nm至1100 nm范圍內(nèi)。通常,CCD 探測器的這種寬光譜響應(yīng)度范圍被稱為光譜輻射計的響應(yīng)度范圍。然而,這沒有考慮色散光柵的光譜響應(yīng)函數(shù),這進(jìn)一步降低了探測器在紫外光譜中的響應(yīng)度。這會導(dǎo)致紫外線測量信號產(chǎn)生顯著誤差,主要是通過長波雜散光產(chǎn)生的。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證窄帶 UV LED 等的精確測量。
專為紫外線輻射設(shè)計的 CCD 光譜輻射計具有有限的光譜范圍,并且具有非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外,濾光片還可用于顯著減少雜散光。
BTS2048-UV-2 滿足高端紫外二極管陣列光譜儀的所有要求,盡管采用尖端技術(shù),但價格極具吸引力。
BiTec 傳感器的一項獨特功能是背照式 CCD 光譜儀和硅光電二極管的組合,可提供高線性度,從而實現(xiàn)極快的測量(請參閱有關(guān) BiTec 傳感器的技術(shù)文章)。具有熱電冷卻功能的全線性化 2048 像素 CCD 探測器由于其積分時間范圍為 2 μs 至 60 s,因此可提供非常寬的動態(tài)范圍。這樣可以在較寬的強度范圍內(nèi)精確測量 UV LED。該設(shè)計在 200 nm 至 550 nm 的整個光譜測量范圍內(nèi)提供 1 nm 的高光學(xué)分辨率。該光譜儀還配備了兩個濾光片,用于自動低雜散光測量。在存在其他光源的情況下,此類測量對于寬帶 UV 燈和 UV LED 是必要的。另請參閱我們關(guān)于光譜輻射計雜散光減少的技術(shù)文章。 BiTec 探測器內(nèi)的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考探測器。 SiC 光電二極管的輻射響應(yīng)度功能使其能夠獨立于 CCD 使用??梢允褂孟鄳?yīng)的光譜數(shù)據(jù)自動校正輻射精度。因此,該設(shè)備可用于對非常弱的信號執(zhí)行快速測量,這使得 BTS20418-UV-2 非常適合集成在測角儀中。盡管尺寸緊湊(103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 – 長 x 寬 x 高),BTS2048-UV 分光輻射度計仍配有一個遙控濾光輪,其中有兩個光學(xué)濾光片和一個用于暗測量的快門。
多年的經(jīng)驗及其設(shè)備齊全的 DAkkS 校準(zhǔn)實驗室 (DK-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能夠提供低至 200 nm 的可追溯校準(zhǔn)。這拓寬了 BTS2048-UV-2 和 UV-C-LED 的應(yīng)用范圍。對于短波光譜范圍,Gigahertz-Optik GmbH 實施了一種特殊的基于氘燈的校準(zhǔn)策略。
以太網(wǎng)接口減少了數(shù)據(jù)傳輸時間
BTS2048-UV-2 非常適合工業(yè)應(yīng)用中的 UV 前端和后端 LED 測試。其 CCD 探測器在觸發(fā)測量之前集成了所有像素的電子調(diào)零功能(電子快門)。當(dāng)測試 LED 在脈沖電流模式下運行時,電子快門和測量觸發(fā)可通過觸發(fā)端口與電源同步。強大的微處理器只需 7 毫秒即可通過快速 LAN 接口將完整的數(shù)據(jù)集傳輸?shù)较到y(tǒng)計算機。
電子快門減少測量時間
BTS2048-UV-2 光譜輻射計具有擴散器窗口,因此可用于測量紫外線輻照度,包括紫外輻照度。光譜和峰值波長,無需任何額外的配件。通過擴散窗,BTS2048-UV-2 還可以直接安裝到積分球、輻射透鏡和測角儀等配件上,以測量輻射功率、輻射亮度和輻射分布。
標(biāo)準(zhǔn)S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面,并提供大量顯示和功能模塊,當(dāng)使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應(yīng)配件配置 BTS2048-UV-2 時,可以激活這些模塊。提供S -SDK-BTS2048 開發(fā)者軟件,用于將 BTS2048-UV-2 集成到客戶自己的軟件中。
用于 BTS2048-UV-2 的 S-BTS2048 軟件
光度測量設(shè)備的一項基本質(zhì)量特征是其精確且可追溯的校準(zhǔn)。 BTS2048-UV-2 由 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校準(zhǔn)實驗室進(jìn)行校準(zhǔn),該實驗室根據(jù) ISO/IEC 17025 獲得DAkkS (DK-15047-01-00) 的光譜響應(yīng)度和光譜輻照度認(rèn)證。校準(zhǔn)還包括相應(yīng)的附件組件。每臺設(shè)備均附有各自的校準(zhǔn)證書。
(1)基礎(chǔ)規(guī)格 | |||
簡短的介紹 | UV 優(yōu)化的 TE 冷卻 CCD 光譜儀具有寬動態(tài)范圍,適用于 CW 和輻照度、光譜和峰值波長的短期測量。其他參數(shù)的配件。 | ||
主要特點 | 設(shè)備緊湊。 BiTec 探測器配備背照式 TE 冷卻 CCD(2048 像素、1.0 nm 光學(xué)分辨率、電子快門)和帶輻射濾光片的 SiC 光電二極管。光學(xué)帶寬校正(CIE214)。帶快門和邊緣濾鏡的濾鏡輪。帶擴散窗的輸入透鏡。余弦視場。 | ||
測量范圍 | 光譜:2E-5 W/(m2nm) 至 1.5E4 W/(m2nm) @325nm。響應(yīng)度從 200 nm 到 550 nm。 | ||
典型應(yīng)用 | 用于設(shè)計應(yīng)用的 CCD 光譜輻射計。用于集成到前端和后端 LED 測試的測試系統(tǒng)中的模塊。 | 校準(zhǔn) | 工廠校準(zhǔn)??勺匪葜羾H校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。 |
(2)產(chǎn)品 | |||
典型應(yīng)用 | 用于光譜輻照度、紅斑等的照度計。 | 輸入光學(xué)器件 | 擴散器,余弦校正視場 (f2 ≤ 3 %)。 |
測量數(shù)量 | 光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質(zhì)心波長、紅斑??蛇x積分球:另外光譜輻射功率 (W/nm) 和輻射功率 (W)。 | ||
濾光輪 | 4 個位置(打開、關(guān)閉、光學(xué)濾鏡)。用于遠(yuǎn)程暗電流測量和雜散光減少。 | ||
BiTec | 可以使用二極管和陣列進(jìn)行并行測量,從而通過二極管對陣列進(jìn)行線性校正,并分別通過a*(s z ( λ )) F*(s z ( λ ))在線校正二極管的光譜失配。 | ||
校準(zhǔn)不確定度 | 光譜輻照度 | ||
λ | u(k=2) | ||
(200 - 209) nm: | ± 10 % | ||
(210 - 239) nm: | ± 9 % | ||
(240 - 339) nm: | ± 6.8 % | ||
(340 - 359) nm: | ± 5 % | ||
(360 - 399) nm | ± 4.3 % | ||
(400 - 550) nm | ± 4 % | ||
測量模式 | 標(biāo)準(zhǔn)測量模式:200 nm 至 550 nm; 超出范圍雜散光校正測量模式 (OoR SLC):200 nm 至 550 nm; 雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm。 |
(3)光譜探測器 | |||
積分時間 | 2μs - 60s *1 | 光譜范圍 | (200 - 550) nm |
光帶寬 | 1.0 nm | 像素分辨率 | ~0.15 nm/像素 |
像素數(shù) | 2048 | 芯片 | 高靈敏度背照式 CCD 芯片,一級冷卻 (1TEC) |
模數(shù)轉(zhuǎn)換器 | 16bit(25 ns 指令周期時間) | 峰值波長 | ± 0.1 nm |
帶通校正 | 支持?jǐn)?shù)學(xué)在線帶通校正 | 線性度 | 完全線性化芯片>99.6% |
雜散光 | 越界方法 < 1E-4 *3 | 基線噪聲 | 5 cts *4 |
信噪比 | 5000*5 | 動態(tài)范圍 | >9 震級 |
光譜響應(yīng)度 | (2E-5 - 1.5E4) W/(m2nm) @325nm *6*7 | ||
典型測量時間 | (250 - 550) nm 鹵素?zé)舻?W/m2 | ||
1 | 4,4 s | ||
10 | 440 ms | ||
100 | 44 ms |
(4)一體式探測器 | |||
測量時間 | (0.1 - 6000) ms | 測量范圍 | 七 (7) 個測量范圍,具有卓越的偏移校正功能。 |
校準(zhǔn) | 輻照度±6%* 10 | 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 | 16bit |
測量范圍 | 可選:(5E-3 - 2E5) W/m2 * 11 | ||
篩選 | 可選:對 220 nm 至 360 nm 范圍內(nèi)的矩形函數(shù)的響應(yīng)度進(jìn)行數(shù)學(xué)調(diào)整(使用測得的光譜數(shù)據(jù)對輻射函數(shù)進(jìn)行 SMCF 在線校正)。* * 二極管的光譜響應(yīng)度不對應(yīng)于矩形函數(shù)(光學(xué)濾波器不可能)。當(dāng)測量光譜偏離積分檢測器(UV LED,峰值為 405 nm)的光源時,使用 SMCF 校正測量結(jié)果。該校正的不確定性取決于測量光譜(噪聲)的質(zhì)量和校正因子(光譜范圍)的大小。 |
(5)圖表 | |||
光譜響應(yīng)度 | 光譜響應(yīng)度 W/(m2nm)(光譜輻照度): | ||
80 mm 直徑積分球的光譜響應(yīng)度 W/nm(光譜輻射功率): | |||
f2(方向響應(yīng)/余弦誤差) | COS BTS2048 VL3 |
(6)其它參數(shù) | |||
微處理器 | 32位用于設(shè)備控制,16位用于CCD陣列控制,8位用于光電二極管控制。 | 接口 | USB V2.0、以太網(wǎng)(LAN UDP協(xié)議)、RS232、RS485。 |
數(shù)據(jù)傳輸 | 標(biāo)準(zhǔn)為 2048 個浮點數(shù)組值,通過以太網(wǎng) 7ms,通過 USB 2.0 140 ms。 | 輸入接口 | 2x (0 - 25) VDC,1x 光電耦合器隔離 5 V / 5 mA。 |
輸出接口 | 最大 2x 集電極開路最大 25V 500毫安。 | 扳機 | 合并觸發(fā)輸入(不同選項、上升/下降沿、延遲等)。 |
軟件 | 用戶軟件 S-BTS2048; 可選軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048,用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 進(jìn)行用戶軟件設(shè)置。 | 電源 | 帶電源:直流輸入 5V (±10 %) @ 700 mA; 帶 USB 總線 (500mA) *8。 |
尺寸 | 103毫米×107毫米×52毫米(長×寬×高)。 | 重量 | 500克 |
安裝 | 三腳架和 M6 螺紋; 前適配器 UMPA-1.0-HL,與積分球端口框架 UMPF-1.0-HL 配合使用。 | 溫度范圍 | 儲存:(-10 至 50)℃; 操作:(10 至 30)°C *9。 |
信息 | *1 建議對積分時間的每次變化執(zhí)行新的暗信號測量; *2典型值,主波長的不確定度取決于LED的光譜分布; *3 典型值,在具有深藍(lán)色 LED 峰值的冷白寬帶 LED 峰值左側(cè) 100 nm 處測量; *4 *5 典型值是在未對 4ms 測量時間和陣列滿量程控制進(jìn)行平均的情況下測得的。平均導(dǎo)致 S/N 二次上升,即基礎(chǔ)噪聲二次下降,例如平均到 100 倍,S/N 提高 10 倍; *6 最小 500/1 序列號。全量程控制下的最大值; *7 只允許短時間照射,以避免熱損傷; *8 在 USB 連接期間,由于電流供應(yīng)有限,并非所有功能都可用,例如沒有以太網(wǎng)和 TEC 冷卻; *9 大約需要溫度穩(wěn)定裝置。 25分鐘在預(yù)熱階段進(jìn)行測量,或者如果在變化的溫度下進(jìn)行測量,則每次測量都需要進(jìn)行暗信號測量; *10 使用氘燈進(jìn)行 (Z) 校正; *11 根據(jù)氘燈的光譜功率分布,僅允許短時間的最大輻射,以避免熱損壞。 |
型號 | 描述 |
S-SDK-BTS2048 | BTS2048 變體的軟件開發(fā)套件。 |
GB-GD-360-RB40 | 用于測量 2π 源的測角儀。 |
S-BTS2048 | BTS2048 變體的應(yīng)用軟件。 |
型號 | 描述 |
BTS2048-UV-S | 使用這款高品質(zhì)緊湊型光譜輻射計進(jìn)行紫外測量。 |
BTS2048-UV | 使用這款高品質(zhì)緊湊型光譜輻射計進(jìn)行紫外測量。 |
BTS2048 Series | 緊湊型光譜輻射計具有出色的光學(xué)性能和 BiTec 技術(shù),可實現(xiàn)實驗室和現(xiàn)場使用的精確測量。 |